Sorumlu
Ölçek Kataloğu
Kısaltılmış Teknoloji Kaygısı Ölçeği
Kısaltılmış Teknoloji Kaygısı Ölçeği, Psikiyatri /Klinik Psikoloji, Psikiyatri Hemşireliği alanında Teknoloji Kaygısı değerlendirmek amacıyla kullanılan Uyarlama türünde akademik bir ölçektir.
Yazar onaylı
Kısaltılmış Teknoloji Kaygısı Ölçeği
Uyarlama
Yazar onaylı
Doğrulama sürecinde
"Ölçek bilgileri kaynak taramasıyla oluşturulmuş, yazar/sorumlu yazar doğrulamasına açıktır."
Sorumlu Yazar
Sercan Mansuroğlu
Dil
Dil bilgisi henüz eklenmemiş.
Hedef Grup
Hedef grup bilgisi henüz doğrulanmamış.
Likert Tipi
Likert tipi bilgisi henüz eklenmemiş.
Eklenme
03.07.2026
Görüntülenme
18
Kod
OLK-001011
Paylaşım Kartı
Aç
Kayıt kaynağı ve hak sahipliği
Dış kaynak kaydı
Bu kayıt, kamuya açık bibliyografik bilgilerden oluşturulmuş olabilir. Ölçek maddeleri, tam formu ve telif kapsamındaki içerikler yalnızca açık yetki varsa paylaşılır.
Hak sahibiyseniz bilgi düzeltme, yazarlık/sahiplik doğrulama veya yayından kaldırma talebi oluşturabilirsiniz.
İşlemler
Ölçeklere Dön
Sertifika
Doğrulama gerekli
Bu ölçek henüz izin/yönerge sürecine hazır değil. Ölçek bilgileri doğrulanmadan izin belgesi veya yönerge oluşturulamaz.
Yazarım
İzin Yetkilisiyim
Bilgi Düzelt
Kaldırma Talebi
2
Form / Alt Boyut
18
Sayfa Görüntülenmesi
Temel ve Kaynak Bilgileri
MakaleÖlçek Türü
Uyarlama
Dil
Dil bilgisi henüz eklenmemiş.
Yaş Aralığı
Hedef grup bilgisi henüz doğrulanmamış.
Kaynak Yılı
2025
Açıklama
Ölçek bilgileri kaynak taramasıyla oluşturulmuş, yazar/sorumlu yazar doğrulamasına açıktır.
Ölçülen Özellikler
Teknoloji Kaygısı
Uygulanabilir Gruplar
-
Ana Araştırma Alanları
Psikiyatri /Klinik Psikoloji
Psikiyatri Hemşireliği
Kaygı Bozuklukları60 Sağlık Bilimleri
Hemşirelik
Alt Alanlar
-
Dergi
Journal of Psychiatric Nursing
Yazarlar
2 kayıtYapı ve Maddeler
Madde bilgileri doğrulama sürecindeMadde bilgileri henüz eklenmemiştir.
Madde bilgileri henüz eklenmemiştir.
Likert ve Puanlama
Likert Sayısı
5
Likert Tipi
-
Min Puan
-
Max Puan
-
Yüksek Puan Anlamı
-
Düşük Puan Anlamı
-
Psikometri
Psikometrik bilgiler henüz eklenmemiş.
APA 7 Atıf
Mansuroğlu, S., & Tek Sevindik, S. (2025). Validity and reliability of the Abbreviated Technology Anxiety Scale in Turkish: A cultural adaptation study on nursing students. Journal of Psychiatric Nursing, 16(4), 292-301. https://doi.org/10.14744/phd.2025.84665.
Kullanım ve Künye
Kullanım Bilgileri
Kullanım İzni
Akademik Ücretsiz
Kullanım Kısıtı
-
Aktif Durum
Aktif
İletişim ve Onay
Yetki Politikası
İzin Politikası
İzin Yetkili Yazar veya Sistem Yöneticisi
Uyuşmazlık Yönetimi
Yönetici Denetimli
Tüm Yazar Onayı
Zorunlu
İzin Kararı Verebilecekler
Sercan Mansuroğlu
Yazar Onay Durumu
Yazar onay süreci tamamlandı.
Orijinal Ölçek Künyesi
Orijinal Başlık
-
Orijinal Yazarlar
-
Orijinal Yıl
-
Orijinal Dil
-
Orijinal DOI
-